解析影響氣密檢漏儀測試周期的因素有哪些？

　　氣密檢漏儀(yi) 目前在醫療器械、汽車電子、工業(ye) 、家電等行業(ye) 使用廣泛。隨著大批量生產(chan) 的發展，用戶期望使用更短的測試周期以及更高的產(chan) 能。

　　那麽(me) 影響氣密檢漏儀(yi) 測試周期的因素有哪些呢?測試周期包含：充氣時間、穩定時間、測試時間、泄氣時間 以及上下夾具的時間。

　　第一：要求的泄漏率

　　對於(yu) 特定的產(chan) 品來說，允許的泄漏率級別是其中的一個(ge) 重要影響因素，氣壓檢漏，一般可以檢測從(cong) 1 到1E-4 sccm的泄漏率。泄漏率越小，檢漏時間越長。泄漏率越大，檢漏時間越短。但對於(yu) 特定的應用和產(chan) 品來說，允許的氣壓泄漏率基本確定。

　　第二：氣壓變化值Δp

　　通常對特定的檢漏儀(yi) 來說，有一個(ge) 最小分辨率，不同檢漏儀(yi) 的最小分辨率差異比較大，從(cong) 0.001到0.00001psig不等，Isaac P檢漏儀(yi) 分辨率為(wei) 1/100,000 psig。 通常最小分辨率由使用的壓力傳(chuan) 感器和模數轉換器確定。這是儀(yi) 器的基本檢測能力。分辨率越小，相應能檢測的氣壓變化值也會(hui) 更小一些。一般實際的氣壓變化值可能設置為(wei) 最小分辨率的10倍到幾百倍之間，不同的產(chan) 品和應用會(hui) 有區別。因此選擇高分辨率的檢漏儀(yi) ，可以幫助降低測試時間。

　　第三：係統體(ti) 積V

　　係統體(ti) 積V也是影響時間的重要因素，特別是對小體(ti) 積產(chan) 品。係統體(ti) 積V包括，儀(yi) 器內(nei) 部體(ti) 積、管路體(ti) 積、產(chan) 品內(nei) 部加壓的體(ti) 積。通常氣壓檢漏儀(yi) 內(nei) 部有10-20cc的體(ti) 積，如果對於(yu) 一個(ge) 內(nei) 部體(ti) 積隻有1-2cc的產(chan) 品測試，儀(yi) 器內(nei) 部體(ti) 積就會(hui) 顯著影響測試時間。Isaac P檢漏儀(yi) 內(nei) 部體(ti) 積低於(yu) 1cc，相對普通氣壓檢漏儀(yi) 來說，可以大大降低係統體(ti) 積V，從(cong) 而減小測試時間。另外一個(ge) 方麵，減少連接管路也比較重要。

　　氣密檢漏儀(yi) 充氣時間主要受到充氣氣壓和管路的大小影響，對於(yu) 較大體(ti) 積的產(chan) 品，比如1000cc-10L，普通檢漏儀(yi) 直接充氣的過程可能就有十幾秒到幾分鍾。Isaac P可選快充選項，通過高氣壓旁路進行快速充氣，減少充氣時間。