在設備上重複測試時，您可以選擇停止多個產品周期的測試

　　影響密封試驗結果的因素很多，其中重要的是溫度和體(ti) 積的變化。在檢測過程中，一旦密封氣體(ti) 回路中的溫度和體(ti) 積發生變化，壓力就會(hui) 根據查理定律發生變化，這將對泄漏試驗造成更大的偏差。

　　在測試過程中，被測物體(ti) 一側(ce) 氣體(ti) 回路的空氣溫度變化與(yu) 壓差：

　　例t=25℃，Δt=1℃

　　①P=100kPaSoΔPt≒675Pa(當被測物體(ti) 的溫度下降時，壓力下降，並出現正測量值。

　　②P≒-101.3kPa（真空）=0kPa(絕對壓力)，因此ΔPt=0Pa

　　溫度對betway必威登录网址的影響：

　　綜上所述，我們(men) 可以得出結論，在真空環境中，它不受溫度變化的影響嗎？測試偏差與(yu) 測試壓力成正比。測試壓力越接近真空，偏差越小。如果實際環境溫度穩定，測試結果對不同溫度環境的影響很小。例如，溫度環境與(yu) 5相比℃差別約為(wei) 5/(273)20）≈1.7%。如果在測試過程中發生溫度變化，將對測試結果產(chan) 生重大影響。

　　正常情況下，氣密性檢漏儀(yi) 會(hui) 導致溫度變化影響試驗：

　　1.氣體(ti) 分子在充氣過程中的摩擦加熱

　　常見現象：氣體(ti) 分子在充氣過程中的摩擦會(hui) 引起熱量。根據氣體(ti) 方程。PV=NRT，可以知道，測試室內(nei) 的壓力會(hui) 增加。充氣後，溫度會(hui) 慢慢恢複到正常室溫。

　　如果穩壓時間不夠，換句話說，內(nei) 腔內(nei) 的溫度仍處於(yu) 下降到測試期的恢複期，那麽(me) 溫度下降引起的壓降將直接反映在測試的泄漏量上。

　　影響：在測試階段，泄漏量由大到小變化，直至穩定。

　　方法一：增加電壓穩定性。在進入測試階段之前，測試室的內(nei) 部溫度自然會(hui) 達到外部溫度。這是直接、有效的方法。缺點是，對於(yu) 一些不易導電的產(chan) 品，如較大的室內(nei) 空間或塑料部件，產(chan) 品內(nei) 部溫度可能需要很長時間才能恢複到正常溫度。這將導致更長的測試周期，並影響消耗效率。

　　方法二：縮短溫度恢複時間。對於(yu) 室內(nei) 空間較大的產(chan) 品，請盡量填充試驗腔，以減少試驗腔的體(ti) 積。

　　方法三：在測試參考端添加與(yu) 測試產(chan) 品相同的參考件或儲(chu) 氣罐，以抵消相同的溫度變化。（這是壓差測試方法比直接壓力測試方法的優(you) 點之一）

　　2.排氣溫度

　　常見現象：試驗結束後，產(chan) 品內(nei) 氣體(ti) 排出後，帶走產(chan) 品和密封工具上的局部溫度。如果同一產(chan) 品的二次試驗立即停止，即電壓穩定後，產(chan) 品內(nei) 部的氣體(ti) 溫度狀態將首先降低，然後上升。在試驗階段，這將導致內(nei) 腔內(nei) 壓力略有上升，從(cong) 而抵消局部泄漏。

　　影響：當重複測試同一產(chan) 品時，測試結果將顯示低於(yu) 一次。如果重複測量中間距離時間，則重複測試結果，影響測試的穩定性。

　　處理方法：重複測試同一產(chan) 品時，兩(liang) 次測試之間需要足夠的時間，才能使產(chan) 品恢複正常測試狀態，每次測試的時間間隔較好不同。在設備上重複測試時，您可以選擇停止多個(ge) 產(chan) 品周期的測試。